Ваш город:
Волгоград
Ваш город Волгоград?
ВЕЛМАС
  • 8-8442-34-18-63
  • 8-800-250-18-63
  • Пишите нам через WhatsApp или Telegram и получайте мгновенный ответ в чате!

    +79173301293


    - Уточняйте цены на оборудование и услуги

    - Узнавайте о наличии товара на ближайшем складе

    - Запрашивайте информацию об актуальных акциях и спецпредложениях

0
Волгоград
Ваш город Волгоград?
Каталог товаров
Каталог товаров
Еще категории
Просвечивающий электронный микроскоп Titan находится на самом острие возможностей по разрешающей способности и обладает максимально возможными характеристиками.
Полное описание
Производитель«FEI Company», США
Под заказ
Артикул: art25205:titan
Цена от 19.09.2023, для уточнения актуальной стоимости просим связаться с менеджером.
Цена по запросу
-+Купить
Запросить КП
Запросить видеодемонстрацию прибора
  • Обзор
  • Характеристики
  • Отзывы0
«FEI Company», США

Просвечивающий электронный микроскоп Titan предназначен для высокопроизводительного формирования субангстремных изображений для двухмерного и трёхмерного анализа на атомарном уровне.
Позволяет с лёгкостью получить доступ к атомарной информации. Сочетая проверенные компоненты, такие как корректоры сферической аберрации (Cs), монохроматорная система и чувствительная технология ChemiSTEM™, с новым улучшенным предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом, программным обеспечением FEI Velox™ и 16-мегапиксельной CMOS-камерой FEI Ceta, этот прибор обеспечивает максимально быструю навигацию и моментальное увеличение для получения детальных изображений на уровне от мезоскопических до атомных длин.

Просвечивающий электронный микроскоп Titan находится на самом острие возможностей по разрешающей способности, обладает максимально возможными характеристиками и постоянно обновляется. Включает в себя самые мощные в мире TEM: Titan Themis, Titan Krios, Titan ETEM.

Сочетая проверенные компоненты, такие как корректоры сферической аберрации, монохроматорную систему, столик с пьезоэлектрическим приводом, программное обеспечение FEI Velox™ и 16-мегапиксельную CMOS-камеру FEI Ceta, просвечивающий электронный микроскоп ультравысокого разрешения Titan обеспечивает удобную навигацию и быструю смену увеличений для получения детальных изображений на уровне до атомарного.

Характеристики

Особенности
  • Высочайшая производительность. 
  • В основе Titan лежит мощное программное обеспечение Velox — разработка компании FEI. 
  • ПО Velox обеспечивает одновременное обнаружение нескольких сигналов от четырёх детекторов, что ускоряет формирование изображения сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (S/TEM). 
  • Кроме того, Velox поддерживает новые функции, например формирование изображений дифференциального фазового контраста (DPC) для исследования внутренних магнитных и электрических полей — даже между атомами. 
  • Получить данные о химическом составе и состоянии связей можно невероятно быстро: со скоростью до 1000 спектров/с при одновременном сборе данных энергодисперсионной спектроскопии (EDS) и спектроскопии потерь энергии электронов (EELS) и с лидирующей в отрасли скоростью 100 000 спектров/с при сборе данных EDS. 
  • Благодаря Velox данные трёхмерного анализа теперь можно получить в сроки, которые прежде требовались для обработки двухмерного изображения. 
  • Исключительное качество изображений S/TEM. 
  • Программное обеспечение Velox Capture и Cs-корректированная оптика обеспечивают высочайшее качество изображения благодаря новой интеллектуальной технологии сканирования — интегрированию кадров с компенсацией дрейфа (Drift Corrected Frame Imaging, DCFI). 
  • Эту технологию можно совместить с рекурсивными возможностями химической визуализации микроскопа Titan, после чего направить финальный набор данных на постобработку. 
  • Расширение аналитических возможностей. 
  • Программный модуль для написания скриптов Velox, поддерживающий работу с популярным в научно-исследовательских кругах языком программирования CPython, позволяет существенно расширить возможности количественного анализа.
Характеристики электронной пушки
  • Корректор изображений: Разброс по энергии: 0,7–0,8 В** Разрешающая способность по точкам: 80 пм Информационный предел: 80 пм Разрешение STEM: 136 пм 
  • Корректор зонда: Разброс по энергии: 0,7–0,8 В** Разрешающая способность по точкам: 200 пм Информационный предел: 100 пм Разрешение STEM: 70 пм 
  • Монохроматор /X-FEG корректор изображений и зонда: Разброс по энергии: 0,2–0,3 В** Разрешающая способность по точкам: 80 пм Информационный предел: 70 пм Разрешение STEM: 70 пм 
  • Корректор изображений и зонда: Разброс по энергии: 0,7–0,8 В** Разрешающая способность по точкам: 80 пм Информационный предел: 80 пм Разрешение STEM: 70 пм
  • Новая трёхлинзовая конденсаторная система с количественной индикацией угла сведения и размера облучаемой поверхности для количественного измерения электронной дозы и условий облучения Гибкий диапазон по высокому напряжению: Titan Themis 300 и Titan Themis3 300: 60–300 кВ (60, 80, 120, 200, 300 кВ); Titan Themis 200: 80–200 кВ (80, 120, 200 кВ) 
  • Монохроматор электронной пушки для достижения высокого разрешения EELS и улучшенного пространственного разрешения, особенно в случае низкокиловольтной HR-S/TEM • STEM и TEM: Titan Themis 300 и Titan3 Themis 300: до 70 пм как для STEM, так и для TEM; Titan Themis 200: 90 пм для TEM, 80 пм для STEM
Предметный столик
  • Одинарный наклонный держатель 
  • Двойной наклонный держатель 
  • Томографический держатель 
  • Функциональные держатели (список по запросу)
  • Новый компьютеризированный 5-осевой предметный столик с пьезоэлектрическим приводом, обеспечивающий точное восстановление положения из памяти, отслеживание просмотренных в ходе исследования областей и сверхустойчивое высокое разрешение на субангстремном уровне с низким смещением образца 
  • Новый предметный столик с пьезоэлектрическим приводом, обеспечивающий возможность перемещения с минимальным шагом 20 пм при центрировании нужной области в зоне видимости 
  • Линейная компенсация смещения, обеспечиваемая предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом и позволяющая снизить зависимость от ограничений, которые накладываются тепловым дрейфом, неизбежно возникающим в ходе экспериментов с нагревом или охлаждением in situ
  • Амплитуда наклона ± 40 градусов для аналитического двойного наклонного держателя, позволяющая максимально приблизиться к оси кристалла поликристаллического материала. Томографический держатель обеспечивает наклон до ± 75 градусов для минимизации отсутствующего клина на трёхмерных реконструкциях
Рабочая камера
  • Симметричная линза Ruska-Rieke S-Twin с широким зазором полюсного наконечника 5,4 мм и дополнительным пространством, позволяющим использовать специальные держатели, в том числе нагреваемые держатели, охлаждаемые держатели и держатели STM/AFM
  • Симметричная линза Ruska-Rieke S-Twin с широким зазором полюсного наконечника 5,4 мм и дополнительным пространством, позволяющим использовать специальные держатели, в том числе нагреваемые держатели, охлаждаемые держатели и держатели STM/AFM
Детекторы
  • HAADF-детектор · Расположенные на оси тройные детекторы DF1/DF2/BF 
  • Камера Ceta 16M 
  • Камеры Gatan US1000/US4000 Серия энергетических фильтров Gatan · Super-X: высокочувствительная безоконная система EDX-детекторов на базе технологии SSD (запатентованная разработка) 
  • Выходная интенсивность до 200 килоимпульсов в секунду 
  • Энергетическое разрешение < 136 В для Mn-Kα и 10 килоимпульсов в секунду (на выходе) < 140 В для Mn-Kα и 100 килоимпульсов в секунду (на выходе) 
  • Телесный угол 0,7 стерадиан 
  • Комбинированная площадь обнаружения 120 мм² 
  • Скоростная съёмка: пиксельное время выполнения операции понижено до 10 мкс 
  • Высокое отношение пика сигнала к сигналу от газового пузыря (число Фиори) > 4000 
  • Превосходные дырочные характеристики (< 1% при подсчёте дырок) 
  • Низкий уровень фона в режиме EDX (< 1% случайных пиковых нагрузок) 
  • Обнаружение всех элементов вплоть до бора
Управление системой
  • Фокусное программное приложение TrueImage™ для количественных применений TEM высокого разрешения (более подробные сведения см. в отдельном информационном листке) 
  • Программное обеспечение Xplore3D™ для автоматических томографических экспериментов S/TEM и программное обеспечение Xplore3D Xpress для сверхбыстрых трёхмерных реконструкций (более подробные сведения см. в отдельном информационном листке)
 
Производитель«FEI Company», США

Просвечивающий микроскоп Titan отзывы

About this product reviews yet. Be the first!

Ультразвуковые дефектоскопы Ручные спектрометры Портативные рентгеновские аппараты Ультразвуковые толщиномеры Твердомеры Толщиномеры покрытий

ВЕЛМАС
Волгоград
Ваш город Волгоград?
Каталог товаров