Ваш город:
Волгоград
Ваш город Волгоград?
ВЕЛМАС
  • 8-8442-34-18-63
  • 8-800-250-18-63
  • Пишите нам через WhatsApp или Telegram и получайте мгновенный ответ в чате!

    +79173301293


    - Уточняйте цены на оборудование и услуги

    - Узнавайте о наличии товара на ближайшем складе

    - Запрашивайте информацию об актуальных акциях и спецпредложениях

0
Волгоград
Ваш город Волгоград?
Каталог товаров
Каталог товаров
Еще категории
Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием
Полное описание
Производитель«FEI Company», США
Под заказ
Артикул: art25211:feiquanta650
Цена от 19.09.2023, для уточнения актуальной стоимости просим связаться с менеджером.
Цена по запросу
-+Купить
Запросить КП
Запросить видеодемонстрацию прибора
  • Обзор
  • Характеристики
  • Отзывы0
«FEI Company», США

Микроскопы Quanta 650 обеспечивают полное представление о любом образце: изображения в композиционном и топографическом режимах можно легко дополнить определением свойств материала и его элементного состава, установив вспомогательное оборудование. Доступны три режима работы: высокий вакуум, низкий вакуум и режим естественной среды. Большая и просторная камера позволяет исследовать габаритные образцы. Перемещение стола достигает 150 мм по осям. Разрешающая способность достигает 3 нм.

Отвечая на вызовы научной работы наших дней, микроскопы серии Quanta не ограничивают исследователя, позволяя получать высококачественные изображения и достоверные результаты анализа при работе с самыми сложными материалами.

Характеристики

Особенности • Высокопроизводительная термоэмиссионная колонна SEM с двуханодной геометрией электронной пушки • Неподвижная апертура объектива для простоты эксплуатации • Линза объектива 45° с дифференциальной откачкой через линзу и подогреваемые апертуры объектива • Максимальная ширина поля зрения: 6,5 мм при аналитическом рабочем расстоянии (10 мм); 11,3 мм при рабочем расстоянии 25 мм Нанохарактеризация • Металлы и сплавы, окисление/коррозия, трещины, сварные швы, шлифы, магнитные и сверхпроводящие материалы • Керамики, композитные материалы, пластмассы • Плёнки/покрытия • Петрографические шлифы, минералы • Мягкие материалы: полимеры, фармацевтические препараты, фильтры, гели, ткани, растительные материалы • Частицы, пористые материалы, волокна Нанопроцессы in situ • Гидратация/дегидратация • Анализ поведения материала при увлажнении/контактного угла • Окисление/коррозия • Предел прочности при растяжении (при нагреве или охлаждении) • Кристаллизация/фазовый переход Нанопрототипирование • Электронно-лучевая литография (EBL) • Осаждение, индуцированное электронным пучком (EBID)
Характеристики электронной пушки • Высокий вакуум - 3,0 нм при 30 кВ (SE) - 4,0 нм при 30 кВ (BSE)* - 8,0 нм при 3 кВ (SE) • Высокий вакуум в режиме торможения пучка - 7,0 нм при 3 кВ (режим BD* + vCD*) • Низкий вакуум - 3,0 нм при 30 кВ (SE) - 4,0 нм при 30 кВ (BSE)* - 10,0 нм при 3 кВ (SE) • Режим естественной среды (ESEM) - 3,0 нм при 30 кВ (SE) • Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ • Ток зонда: до 2 мкА с плавной регулировкой • Увеличение: 13–1 000 000 x
Предметный столик Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик Перемещение в плоскости XY: 150 x 150 мм Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм Воспроизводимость результатов: 2 мкм Зазор по оси Z: 93,5 мм Поворот: n x 360° Наклон: -15° / +70° Вцентрический наклон на высоте 29,3 мм для любых рабочих расстояний
Рабочая камера • Ширина: 379 мм • Аналитическое рабочее расстояние 10 мм • Количество портов: 8 • Угол выхода для детектора EDS: 35°
Детекторы • Детектор вторичных электронов (SED) Верхарта — Торнли • Низковакуумный детектор вторичных электронов большого поля (LFD) • Газовый детектор вторичных электронов (GSED) (используется в режиме ESEM) • Высокочувствительный низковольтный детектор обратно отраженных электронов SS-BSED*ИК-камера для контроля положения образца в камере • Газовый детектор обратно отраженных электронов для обнаружения при высоком давлении в режиме ESEM* • 4-квадрантный твердотельный детектор обратно отраженных электронов* • Cсцинтиллятор BSED/CLD* • vCD (низковольтный высококонтрастный детектор)* • Измерение тока электронного пучка* • Газовый аналитический BSED (GAD)* • Детектор прошедших электронов (STEM)* • Nav-CamTM — цветная оптическая камера для навигации по образцу*
Вакуумная система • 1 x 250 л/с TMP (турбомолекулярный насос), 1 x PVP (форвакуумный насос) • Запатентованный способ дифференциальной откачки через линзу • Длина пути пучка в газе: 10 мм или 2 мм • Возможность установки безмасляного винтового/сухого PVP по дополнительному заказу • Вакуумная камера (высокий) < 6e–4 Па • Вакуумная камера (низкий) < 10–130 Па • Режим ESEM < 10–2600 Па • Время откачки: ≤150 с до высокого вакуума и ≤270 с до ESEM (стандартные процедуры испытаний FEI
Дополнительные аналитические возможности • EDS • WDS • EBSD • Криостолик • Катодолюминесценция • Прибор для измерения малых токов образца • Наноманипуляторы • Системы для литографии • CAD-навигация • Электрическое зондирование
Управление системой • 32-битный графический пользовательский интерфейс на базе Windows®XP, клавиатура, оптическая мышь • Один 19-дюймовый ЖК-монитор, SVGA 1280 x 1024 •  MagicSwitchTM (переключатель, контролируемый с ПК)* • Джойстик* • Ручной пользовательский интерфейс*
Получение изображений • Разрешение до 4096 x 3536 пикселей (≈14Mpix) • Тип файла: TIFF (8- или 16-битный), BMP, JPEG • Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах • 4-квадранта, прямая трансляция • Прямое или статическое смешение сигналов в цвете или градациях серого • усреднение или интегрирование 256 кадров • Запись цифрового видеоизображения (.avi) • Гистограмма изображения и измерительное программное обеспечение
Доступные программные функции • Технология сканирования SmartSCAN • Автоматическая сшивка изображений • Программное терморегулирование • Интервальное получение изображений в 1–4 квадрантах • Функция сохранения нескольких изображений • Программная утилита FEI Movie Creator (создание специального .avi-файла на основе автоматически полученной серии TIFF-изображений) • Функциональные возможности большого окна изображения (отображает изображение на отдельном мониторе, обеспечивает возможность отображения двух полноэкранных изображений, полученных от различных детекторов)
Системные опции • Торможение пучка • Ручной пользовательский интерфейс • Вспомогательный ПК (включая второй  19-дюймовый монитор) • Блок переключателей с программным управлением • Охлаждаемый предметный столик с элементом Пельтье с программным управлением • Система WetSTEMTM с программным управлением • Нагреваемый до 1000 °С предметный столик с программным управлением • Нагреваемый до 1500 °С предметный столик с программным управлением • Система криогенной очистки Cryocleaner • Запасная ёмкость для Cryocleaner • Джойстик • Измеритель тока образца • Программное обеспечение для дистанционного управления • Комплект держателей образцов • Акустический чехол для вакуумного насоса • 7- или 52-контактный электрический вывод • Электростатический бланкер пучка • Комплект оснащения системой WDS • Монтажный комплект для спирального форвакуумного насоса • Вспомогательный газовый набор (для газов вместо воды)
Требования по установке • Электропитание: напряжение 230 В (+6%, –10%), частота 50 или 60 Гц (+/–1 %) • Потребляемая мощность: < 3,0 кВА в базовой комплектации • Сопротивление заземления: < 0,1 Ом • Условия эксплуатации: температура (+15…+25) °C, относительная влажность не более 80% (без конденсата), уровень паразитных ЭМП с переменным  напряжением < 100 нТ асинхронные поля < 300 нТ синхронные поля • Ширина дверного проёма: 90 см • Вес микроскопа с колонной: 450 кг • Рекомендуется сухой азот: система (от 0,7 до 0,8 бар, макс 10 л/мин во время вентилирования) • Уровень шума: <68 дБн (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться акустический спектр) • Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации пола) • Виброизоляционный стол поставляется по дополнительному заказу
Производитель«FEI Company», США

Сканирующий электронный микроскоп FEI Quanta 650 отзывы

About this product reviews yet. Be the first!

Ультразвуковые дефектоскопы Ручные спектрометры Портативные рентгеновские аппараты Ультразвуковые толщиномеры Твердомеры Толщиномеры покрытий

ВЕЛМАС
Волгоград
Ваш город Волгоград?
Каталог товаров